扫描质子微探针

    扫描质子微探针 : 缩写“SPM”。亦称“质子显 微镜”,简称“质子微探针”。在质子X荧光 分析基础上发展起来的一种多元素的痕量 分析技术。将入射质子束聚焦成细束,使束 流密度提高2～3个数量级。产生的特征X 射线用Si(Li)探测器进行测量。此法能显 示样品中所含元素成分的空间分布,借助 电子计算机控制扫描和数据运算。最后由 计算机给出各元素在样品中分布。此法对 生物样品的分析特别有价值,可对细胞中 微量元素分布进行分析,有助于揭示生命 过程现象。